温度冲击试验箱

温度冲击试验箱

HKC系列产品主要用于航空、航天、航海、兵器、电子、高校、科研所、国防等领域。模拟单温度、温度冲击循环、干燥、储存等功能。

执行标准：

GB10592-89   高低温箱技术条件；

GB11158      高温试验箱技术条件；

GB10589      低温试验箱技术条件；

GB10592      高低温试验箱技术条件；

GJB150.3      高温试验；

GJB150.4      低温试验；

GB2423.1-89  电工电子产品基本环境试验规程 试验A：低温试验方法；

GB2423.2-89  电工电子产品基本环境试验规程 试验B：高温试验方法；

GJB150       温度冲击试验方法；

GJB360       温度冲击试验方法；

冲击温度范围

-55℃～＋150℃

温度恢复时间

≤5min

温度转换时间

≤10s

暴露时间

≥30min

温度波动度

≤±0.5℃

温度均匀性

≤2℃（提篮工作区测试）

温度偏差

≤±2℃

预热（冷）温度

高温室：＋50℃～＋180℃

低温室：-20℃～-70℃

预热（冷）时间

≤45min

设备噪音

小于75分贝